進口工業(yè)自動化設(shè)備供應(yīng)商，國外原廠地采購，有供貨周期，價格需要人工核實。
iSE 是一種新型原位光譜橢偏儀，專為實時監(jiān)測薄膜加工而開發(fā)。使用我們成熟的技術(shù)，iSE 使用戶能夠優(yōu)化沉積薄膜的光學特性，以亞埃靈敏度控制薄膜生長，并監(jiān)測生長動力學。
為什么是 ISE？
強大的
借助光譜橢偏儀 (SE) 的強大功能，iSE 能夠以比其他技術(shù)更高的確定性測量厚度和光學特性。
袖珍的
新的緊湊型設(shè)計可輕松集成到任何腔室中。
多才多藝的
準確測定各種薄膜的厚度和光學特性，包括金屬、半導(dǎo)體、氧化物、氮化物等。
經(jīng)濟實惠
以合理的價格提供光譜橢偏儀的強大功能。
便于使用
用戶友好的界面，用于實時分析薄膜生長和蝕刻。
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