CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
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