T300L 鍍層測厚儀
T300L是一款應用廣泛的能量色散型x射線熒光鍍層測厚分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
l Si-Pin 半導體探測器 | l 高精度大功率光管 |
l EFP 算法自動判障校正 | l 超大開放式的樣品臺 |
測量范圍 | 鋁(Al)-鈾(U) | 攝像頭 | 高清晰工業攝像頭 |
探測器 | Si-Pin 半導體探測器 | 放大功能 | 局部倍大 |
種類 | 固定型 | 視窗大小 | 無級別式視窗大小 |
固定種類大小 | 0.5mm | 應用 | 單鍍層 |
顯示模式 | 元素頻譜顯示 | 輸入電壓 | AC220V±10%50/60HZ |
元素顯示 | 標簽圖案顯示 | 通訊方式 | 高速 USB 傳輸 |
指標顯示 | 顯示元素及測量數值 | 溫度控制 | 前置放大及機箱溫度控制 |
外觀尺寸 | 414*416*362mm | 溫度控制 | 自動前置放大溫度控制 |
腔體尺寸 | 268*307*97mm | X射線管 | 高精度大功率光管 |
探測器道址 | 4096 道址 | 高壓 | 0-50kV(程控) |
測試平臺 | 固定 | 管電流 | 0-1mA(程控) |
測試時間 | 10-40s | 目標靶 | W靶 |
軟件特性 | EFP 算法,自動判斷故障及校正,人性化設計簡單易學 | ||
產品性能
穩定性:T300L 有著良好的長期穩定性,不需要經常校準儀器。
無需制備樣品:無論是對鍍層系統還是對固體,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
綜合性能:鍍層分析/定性分析/定量分析/統計功能
系統安全性
1.前面板安全鈕
2.樣品室門開閉傳感器
3.X射線警示燈
4.主管人員可進行系統維護
5.自動鎖定功能防止未的操作
6.系統自動生成操作員的使用記錄
7.簡單用戶界面,只向日常操作員設定有限的
工作特點
2 精準測量單鍍層,同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線
2 測量精度高、穩定性好,測量結果精確至uin
2 快速無損測量,測量時間短,1s內得出測量結果
2 可分析固體;定性、半定量和定量分析
2 強大的數據統計、處理功能:平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、最小值等
2 結果輸出:直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件;報告包含數據、圖像、統計圖、客戶信息等
2 測量位置預覽功能;高分辨率彩色CCD樣品觀察系統,標準光學放大倍數為30 倍
2 提供服務及技術支持
應用領域
可用于電子元器件、半導體、PCB、FPC、LED支架、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器、端子、衛浴潔具、首飾飾品多個行業表面鍍層厚度的測量及材料分析,低成本、高效率。
電子行業
確保元件可靠性,測量焊料合金成分和鍍層厚度
優化質量控制,確保產品生命期
五金電鍍行業
快速簡單的分析,進行單鍍層厚度測量和成分分析
可快速無損進行單鍍層精準分析
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