脈沖測試儀是一種能夠削減器材總能耗的丈量技能。它通過削減焦耳熱效應（例如I2R和V2/R），避免對小型納米器材可能形成的損壞。脈沖測試儀采用足夠高的電源對待測器材（DUT）施加間隔很短的脈沖，發生高品質的可測信號，然后去掉信號源。
通過脈沖測試儀，工程技能人員可以獲得更多的器材信息，更準確地分析和掌握器材的行為特征。例如，使用脈沖測試儀技能可以對納米器材進行瞬態測驗，確定其搬運函數，然后分析待測資料的特征。脈沖測試儀丈量關于具有恒溫限制的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和納米器材，可以避免自熱效應，避免自熱效應掩蓋研討人員所關懷的呼應特征。
器材工程師還可以使用脈沖測試儀技能分析電荷抓獲效應。在晶體管開啟后電荷抓獲效應會降低漏極電流。隨著電荷逐步被抓獲到柵介質中，晶體管的閾值電壓由于柵電容內建電壓的升高而增大；然后漏極電流就降低了。
脈沖測試儀為人們和研討納米材料、納米電子和目前的半導體器材供給了一種重要手法。脈沖測試儀有兩種不同的類型：加電壓脈沖和加電流脈沖。
電壓脈沖測試儀發生的脈沖寬度比電流脈沖測試儀窄得多。這一特性使得電壓脈沖測試儀更適合于熱傳輸實驗，其中咱們所關懷的時間窗口只要幾百納秒。電流脈沖測試儀與電壓脈沖測試儀十分類似。
