AI AOI
芯片晶粒，IC，元器件，微型傳感器的AI外觀檢測
AI Optical Inspection for IC, Wafer, Micro Module and Components
替代目前人工實現自動化檢測，主要為IC芯片，晶圓，元器件等的微型零件的光學外觀檢測。
采用精密控制的平臺，搭配精密光學系統，將零件拍照，然后使用算法對零件進行光學外觀檢測，NG部件輸出列表供人工復檢。
應用的算法包括：圖像裁剪，預處理，模板分析，OCR，像素測量等傳統機器視覺檢測技術，和AI，深度學習 Deep Learning的視覺檢測技術進行檢測。鏈接AI，人工智能，深度學習 AI可以解決以前難以清晰界定，模糊標準的缺陷檢測。
檢測范圍包括：刮痕，偏移，變形，缺失，模糊，破損等不良。具體請發送要求，討論具體測試算法和方案。
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