IEC60884-1 / GB2099.1第24.4章及圖27、VDE0620-2010第24.4章及圖28、VDE0472、GB2951.14
本裝置需配合低溫箱使用，使用時與試件置于低溫箱內(nèi)，經(jīng)一定時間冷卻后，以規(guī)定重量之砝碼，由 100mm 之高度落下，撞擊試件，檢測插頭或線材隔離線內(nèi)外緣及護(hù)套之受損情況。
本裝置需配合低溫箱使用，使用時與試件置于低溫箱內(nèi)，經(jīng)一定時間冷卻后，以規(guī)定重量之砝碼，由 100mm 之高度落下，撞擊試件，檢測插頭或線材隔離線內(nèi)外緣及護(hù)套之受損情況。
沖擊高度：100mm
落錘重量：100，200，300，400，500，600，750，1000，1250，1500g
落錘重量：100，200，300，400，500，600，750，1000，1250，1500g
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